絕緣體積表面電阻率測(cè)試儀操作方式
絕緣體積表面電阻率測(cè)試儀操作方式
絕緣體積表面電阻率測(cè)試儀測(cè)量*電阻和非常微弱電流的精密儀器是因?yàn)闄C(jī)器內(nèi)有一個(gè)超高性能的靜電計(jì)放大器，盡管儀器有多種保護(hù)措施，這個(gè)超高性能的靜電放大器在以下這些不正確操作使用中均可能因過(guò)大電流沖擊、過(guò)電壓或放電等*損壞或降低其測(cè)量精度與性能。
測(cè)試過(guò)程 | 不正確的操作方式 | 后果 | 是否閱讀 |
開機(jī)前
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沒有將電壓撥至10V，電阻電流量程檔撥至104
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過(guò)電流沖擊造成儀器放大器過(guò)電流而損壞
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測(cè)試過(guò)程
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隨意調(diào)節(jié)后面板電壓量程而改變測(cè)試電壓
| 過(guò)電流或反向放電沖擊造成儀器過(guò)電流而損壞
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測(cè)試過(guò)程 | 改變屏蔽箱上體面電阻，表面電測(cè)測(cè)試開關(guān) | 過(guò)電流或反向放電沖擊造成儀器過(guò)電流而損壞 |
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測(cè)試過(guò)程 | 測(cè)試電壓過(guò)高，導(dǎo)致測(cè)試材料擊穿 | 過(guò)電流或反向放電沖擊造成儀器過(guò)電流而損壞或測(cè)量性能降低 |
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測(cè)試過(guò)程 | 微電流測(cè)量線與高壓線短路 | 過(guò)電流或反向放電沖擊造成儀器過(guò)電流而損壞或測(cè)量性能降低 |
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測(cè)試完成
| 未將電壓量程撥至10V，電阻電流量程檔撥至104進(jìn)行關(guān)機(jī)。
| 過(guò)電流或反向放電沖擊造成儀器過(guò)電流而損壞或測(cè)量性能降低 |
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絕緣體積表面電阻率測(cè)試儀主要特點(diǎn)
- 電阻測(cè)量范圍 1×104Ω ～1×1018 Ω；
- 電流測(cè)量范圍 2×10-4Ａ ～1×10-16Ａ；
- 體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高；
u *的被測(cè)電阻、和流過(guò)電阻的電流雙顯示，使操作測(cè)量更加方便；
u 性能穩(wěn)定、讀數(shù)方便；
u 既能測(cè)電阻又能測(cè)電流；
u 測(cè)試電壓有六種選擇DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V；
u 使用操作簡(jiǎn)便，在任何電阻量程和測(cè)試電壓下均直接讀顯示數(shù)字結(jié)果，免去要乘以一個(gè)系數(shù)的麻煩，使測(cè)量超高電阻就如用萬(wàn)用表測(cè)量普通電阻樣簡(jiǎn)便。
絕緣體積表面電阻率測(cè)試儀度優(yōu)于下表：
量程 | 有效顯示范圍 | 20～30℃ RH<80% |
104 | 0.01~19.99 | 1% |
105 | 0.01～19.99 | 1% |
106 | 0.01～19.99 | 1% |
107 | 0.01～19.99 | 1% |
108 | 0.01～19.99 | 1% |
109 | 0.01～19.99 | 1% |
1010 | 0.01～19.99 | 5%+2字 |
1011 | 0.01～19.99 | 5%+2字 |
1012 | 0.01～19.99 | 5%+5字 |
1013 | 0.01～19.99 | 10%+5字 |
1014 | 0.01～19.99 | 10%+5字 |
1014以上 | 0.01～19.99 | 10-15%+5字 |
( 超出有效顯示范圍時(shí)誤差有可能增加)測(cè)試電流準(zhǔn)確度與電阻相同測(cè)試電壓準(zhǔn)確度為 10%
